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名稱:科宇系統有限公司
英文名稱:Active Link System Corp.
統一編號:28149849
主打產品服務:四點探針與濕製程濃度量測
公司網站:http://www.activelink.com.tw
服務時間:09:00-18:00 全年無休
聯絡人:許江州
科宇系統代理歐美半導體與光電產業的專業量測分析系統,包括濕製程濃度分析儀、光罩檢查機、探針台, CV / IV 量測系統, 薄膜片電阻量測儀,以及太陽電池製程片電阻與漏電流量測等機台與周邊耗材。 

CI-SEMI 
WetSpec in-line concentration monitor  濕製程多通道即時濃度監測系統適用於清洗(Clean),蝕刻(Etch),去光阻(Strip)等的化學槽監測,如半導體製程SC1、SC2、BOE、DHF、EKC、ACT; 光電產業Al etch、BOE、PR STRIPPER等;與太陽能製程的HF/HNO3、KOH/IPA等化學液濃度監控。 NIR量測迅速可以即時監控濃度變化,一台主機對應八個不同酸槽不同應用,成本低、擴充彈性大 

* Probing Solutions Inc. 
Probe Stations 晶圓探針台 4"~12" wafer probe. Photomask Inspection Station 光罩顯微檢驗機台inspecting particles on pellicles or glass and pattern defects.專為光罩檢查設計,操作容易搭配8種照明模式容易觀測各種缺陷。 

4 Dimensions Inc. 
Hg CV Mapping system電容-電壓量測系統 C-V, I-V, Q-V...特殊汞探針設計可直接量測無圖形晶圓。 4 point probe system 四點探針阻值量測系統適用於半導體或光電產業薄膜阻值量測。Sheet Resistance 片電阻量測 Solar Cell, ITO, Wafer mapping. 另外針對太陽電池應用4D開發出可以量測片電阻與漏電流檢測之專利機種,可以檢測PN Junction漏電流

 * Jandel Probe Heads 
適用各大廠之阻值量測系統使用之四點探針探頭,品質優異價格合理

KSC Lithography Software Development 

服務內容: Wet process monitor 濕製程濃度計,Probe station 探針台,Photomask inspection station 光罩檢查機,4 point probe system 四點探針機台,Hg CV system 汞探針,Probe heads 四點探針頭,Lithography software development,ADE used system
主要服務地區:台灣北部, 台灣中部, 台灣南部, 台灣東部

 聯絡資料
 聯絡電話:03-658-6503
 聯絡手機:0936876545
傳真電話:03-658-6507


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