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NanoX-2000 3D表面形貌仪 亮相 Semicon China 2015
时间:2018年11月14日 来源:未知 作者:zjcn 点击:

       “Semicon China 2015”,于2015年3月17日至19日在上海新国际博览中心隆重召开。
        超纳仪器作为国内3D纳米级精密测量仪器制造领域的一员,应邀参加了“Semicon China 2015”,充分展示了“NanoX-2000 3D表面形貌仪”的应用领域。我司向前来咨询的各行业专业人士进行了实物测量演示,通过演示结果和交流,诠释了“NanoX-2000 3D表面形貌仪”如何实现纳米级粗糙度和台阶高的检测解决方案。在三天的参展期间吸引了包括了台湾、韩国等国内外众多企业和业内人士纷纷前来交流,达到了公司参展的预期效果。
        据了解,该展会自2006年在上海成功举办以来,已经连续成功举办了二十七届,二十七年来展会规模、展商数、观众数等均创新高,展会吸引了来自世界各地的公司前来展示其前沿的技术和创新产品案例。本届展会不仅延续了以往的佳绩,而且各项数据再创新高,共有937家展商前来参展,设置展位2623个,展位面积达60000㎡,吸引了超过53900名观众。

NanoX-2000 3D表面形貌仪 亮相 Semicon China 2015

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